產(chǎn)品特點(diǎn)：

高精度測(cè)量：采用先進(jìn)電磁感應(yīng)技術(shù)和微處理芯片，如 D-FN-sm 在 0-100μm 范圍內(nèi)誤差≤2μm，100-1300μm 范圍內(nèi)誤差≤3%。

功能多樣：部分探頭有曲率補(bǔ)償功能，如 D-F-ro，在平面校準(zhǔn)后可測(cè)曲面。

兼容性強(qiáng)：如 FD10 探頭適配 Isoscope/Deltascope/Dualscope 系列（FMP10/FMP20/FMP30/FMP40 等）主機(jī)。

操作簡(jiǎn)便：與菲希爾膜厚儀等配合，操作界面直觀，且部分探頭內(nèi)置芯片，可自動(dòng)識(shí)別模式，無需預(yù)校準(zhǔn)。

工作原理：基于電磁感應(yīng)原理（DIN EN ISO 2178），探頭靠近可磁化基體材料上的不可磁化涂層時(shí)，產(chǎn)生的磁場(chǎng)會(huì)在基體中產(chǎn)生感應(yīng)電流，涂層會(huì)影響磁場(chǎng)分布和感應(yīng)電流大小，通過測(cè)量變化計(jì)算涂層厚度。可用于測(cè)量可磁化基體材料上的不可磁化涂層厚度。